R&S®ZVA 系列产品属于高端矢量网络分析仪，多可支持4 个信号源，可以地测量高达110 GHz 的信号。需要对高性能、多功能型有源或无源组件和模块进行要求极高的测量时，该系列产品是理想的选择。其高频型产品的频率范围大可扩展至500 GHz。
的性能(*) 宽动态范围典型值 >150 dB高输出功率典型值 >18 dBm高测量速度每个点 <2 μs采样时间非常短每个点 430 ns测量点数多每条迹线多达 60001 个点中频带宽大15 MHz（脉冲包络测量时为 30 MHz）内部信号源2（4 端口型号）(*)需使用佳数据、特殊选件或 1 Hz IF 带宽，详见“规格简介”或 R&S®ZVA 参数表。R&S®ZVA 已经成为解决绝大多数极具挑战性应用的里程碑式产品：
台频率可高达67 GHz，并且含两路内部源的矢量网络分析仪，可以快速地对放大器和混频器进行测量
• 线性和非线性放大器和混频器测量：
° 对混频器变频损耗的矢量误差校正幅度和相位进行测量
° 对带内置本振的群延时和相对相位进行测量
° 对混频器的变频损耗和互调进行测量
° 对放大器进行互调和Hot S 参数进行测量
• 脉冲测量：
° 台中频带宽高达30 MHz 的矢量网络分析仪，用于对工作频率高达67 GHz的放大器和混频器进行脉冲测量（详细内容请参见“应用”和“选件”）
° 对脉宽小于50 ns 的脉冲信号进行分辨率高达12.5 ns 的脉冲包络测量
° 频率和功率扫描式的脉内测量
• 台工作频率高达50 GHz 、可以产生相位相干信号的矢量网络分析仪
° 采用真差分模拟，可以快速、简便地测试平衡待测设备
° 输入到DUT 参考面上的信号的幅值和相位关系支持用户自定义
• 校准
° 多功能校准技术：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA 和UOSM
° 方便、快捷的矢量混频器校准功能和带有“未知通路”校准UOSM的“适配器去除功能”
特性：
1.优化的测试和配置时间，提高了测试速度
大中频带宽和宽动态范围，使测量更快、更加
R&S®ZVA 创立了测量速度的新：它将高达1 MHz的中频带宽（可选5/10 MHz）和高速合成器结合在一起，缩短了测量时间，从而提高了手动调整和自动化生产过程的效率。在CW 模式下，每个测试点的测量时间不到3.5μs；频率扫描模式下200 多个测试点不到5ms 即可完成。
由于该分析仪的动态范围宽、相位噪声低，因而这种速度优势丝毫不会对测量准确性产生影响。借助R&S®ZVA 上100 多个独立信道和配置的迹线，可以在短时间内完成复杂组件全面的功能测试。不再需要耗时地加载新的仪表设置。 宽动态范围
小化的校准工作量和校准时间
R&S®ZV-Z5x 自动校准单元
采用自动校准单元，将校准时间降低至小：
• 自动检测已经连接的设备和端口：无需配置。
• 工作温度范围极宽，预热时间几乎为零。
手动校准
• 罗德与施瓦茨网络分析仪支持数量多的校准技术。测试装置的夹具、晶片、PCB、波导或者导线端头可能需要校准。选择可以支持适用校准标准的校准技术。
• 系统设计有结构清晰的对话框，显示所有的校准步骤，确保校准工作正确无误。
• 校准期间，错误的连接仅需重做相应的校准步骤，即，无需从头开始的重新校准。
• 对于多端口重新校准，更加省心省力：更换测试仪组件（例如，某个故障电缆）之后，仅需重新校准相应的通路。
• 避免重新校准：对于后续测量信道和设置，可以使用已有的校准结果。
并行测量— 测量速度比原来快四倍
R&S®ZVA 的发生器设计，使得每个测试端口都可以同时作为信号源和接收机使用。因此，可以对测试端口进行分组。在各个测试端口组上进行的测量任务可以彼此实现同步。因而，可以并行地测量多个DUT 或者一个DUT 的多个通路；测量时间仅相当于测量一个设备所需要的时间。因此，同时测量两个两端口DUT时，速度将提高一倍；同时测量四个单端口DUT时，速度将是原先的四倍。
并行测量
仪器各种设置之间的快速切换
在同时分析多个DUT时，你再也无需从硬盘逐个载入所需的仪器设置。一旦被调用，设置将始终保存于RAM中，其中包括计算获得的数据，例如通过插值获得的校准值。因此，各种设置之间的切换几乎不会产生延误，例如：远程控制模式下不到10 ms 时间。而对于传统仪器来说，设置的调用则需要花费长达一秒钟的时间。每个设置都用一个单独的测量窗口表示。需要在不同窗口之间切换时，只需使用鼠标或按动按键即可。此外，这种设计还可以方便地处理并清晰地显示大量的测量结果和迹线。
仪器各种设置之间的切换
在扫描的同时进行数据传输
由于迹线数据可在捕获测量数据的同时通过IEC/IEEE总线或LAN进行传输，因而R&S®ZVA 上的数据传输时间对于重复测量序列来说微不足道。
信道位和用户端口——高速控制外部设备
为了进一步缩短自动测试周期，仪器后面板上提供了一个用于触发I/O信号的特殊端口，这些I/O 信号可通过R&S®ZVA 的内部测量序列直接同步测量装置的外部设备或DUT 设置。诸如“触发就绪”等仪表状态，可以用作直接控制外部设备的电信号。由于不需要使用远程控制序列，因而节省了执行时间。
利用分段扫描实现佳测量速度、准确性和动态范围
分段扫描功能允许将一次扫描分割成数量不受限制的许多段，每一段的测试点间距、测量带宽和信号发生器功率等各分段扫描参数可单独进行定义，从而实现与DUT特性之间的佳匹配。以此实现测量速度和准确度的进一步优化。
2.直观的用户界面和显示结构
为了佳地满足用户需求，罗德与施瓦茨公司的全部网络分析仪的所有功能都可以采用前面板按键、鼠标和键盘，或者同时采用两者进行控制。对话框直观地显示仪表设置和可输入的参数。仅需少数几个菜单，就可以完成基本的设置。系统设计了其它表格和对话框，可以用于更加详尽的高级设置。此外，鼠标点击显示界面中的参数区域时，会弹出菜单，从中可以选择目标参数– 采用该功能，可以极其方便、快速地操作R&S®ZVA。
虚拟阻抗匹配的参数化配置网络
（重新）配置迹线、信道、标度和显示区域等
配置时域测量（TDR）功能
罗德与施瓦茨公司的所有网络分析仪的主要目的是实现配置的方便与灵活性以及海量测量数据（即，迹线和测量信道）的处理能力。迹线、信道、显示和设置等的数量仅受PC 内存的限制（例如，可支持高达100 个迹线，且每个迹线多可支持401 个数据点）。即使是不同信道的迹线，也可以组合在一个区内，据此，可以方便地比较使用了不同参数的测量结果。完成设置之后，所有迹线均可以重新布局、移至不同的区域，或者分配给不同的信道；更改设置时，无需一切从头开始。
灵活的信道和迹线布局
3.新式的校准技术
多用途校准技术，可满足所有领域的应用
R&S®ZVA 不仅提供传统的TOSM校准方法（直通、开路、短路、匹配），而且还提供其他多种校准技术。由于R&S®ZVA 的每个测试端口都配备了一个单独的参考接收机，因而可以使用的7-term 校准技术，其中包括TRL/LRL（直通、反射、传输线/传输线、反射、传输线）、TOM（直通、开路、匹配）、TNA（直通、网络、衰减器）和TRM（直通、反射、匹配）。这些校准技术适合测试夹具或晶片的校准。由于校准直接在DUT 参考面上进行，因而完全消除了测试夹具产生的影响。
UOSM 校准技术极其类似于TOSM 技术。但是，前者允许使用未知通路（“U”）作为校准标准，即，无需知道某个通路的参数（例如，长度或衰减）。此外，支持各种类型连接器随意组合的适配器也可用作通路。因此，极大地方便了带有不同类型连接器的DUT 的校准任务。
使用灵活的校准套件
任何一种网络分析仪的测量精度均极大地取决于例如长度、容量等所有电气和机械参数。这些参数决定了幅值和相位响应，因而，也决定了校准标准中的S 参数。当然，必须尽可能准确地获得这些参数。为了定义校准标准，必要拥有考虑了可能出现的全部非理想条件的等效电路。罗德与施瓦茨的所有网络分析仪均配设有清晰的等效电路图和建模功能，完全满足这一需求，可以进行详尽的参数设置。
通过电气延时、任意阻抗和损耗定义匹配
采用等效电路图定义匹配，其中，考虑了寄生电感和寄生电容效应
除了手动地定义校准套件之外，也可以通过文件方便地安装校准套件– 甚至可以采用其它提供商的ASCII 码文件进行安装。可以切换至其它提供商所使用的测量单元。
自动校准――快速、无错误、高精度
尽管TOSM、TRM 和TRL 等手动校准技术可用于多端口测量，但是比较耗时，出错率高，并且校准装置磨损严重。罗德与施瓦茨提供同轴单端口和多端口校准所需的自动校准单元，该单元在连接后可立即进入工作状态，不到30秒时间可完成201个测试点的四端口校准。
4.通信
系统设计有各种后面板连接器，用于支持：
• 通过远程控制软件控制仪表。
• 采用R&S®NRP探头进行直流电压和功率测量
• 同步功能（例如，参考频率、外部触发器、扫描和触发状态指示等，用以直接、快速地与外部设备进行交互）。
• 扫描时间测量：USER CONTROL 端口的针脚4 指示测量时间，与菜单“Trigger settings（触发器设置）”中的设置相对应（扫描、扫描段、测试点，或者部分测量）。借助示波器，可以方便地监控每一种情况下实际所需要的执行时间。
| 
